7月1日， Waynekerr electronic的Desmond（吴量盛）博士应重点实验室邀请来我校作题为“阻抗测试原理及应用”的讲座，材料物理与化学专业的研究生和部分教师参加了讲座。

    吴博士从理论到实践，以丰富的实例，深入浅出地剖析，并针对等离子体电源阻抗和印刷电子材料阻抗测试进行了现场演示，最后与师生就具体问题进行了热烈地讨论，使原计划2小时的讲座一直延长到3小时，师生受益匪浅。

    吴博士出生于新加坡，毕业于新加坡理工学院电子与通讯专业，曾经任教于新加坡空军工程学院，后长期致力于电子服务及使用行业。